Product
Product


基板下面検査専用 3D AOI

レーザーラインビーム スキャン方式

同一分野最速の検査速度

Flip工程無しで そのまま検査

THD Pin, Wave or Selectiveはんだ付け、SMD検査に特化

追加のCycle time無しに PCB反り、異物&汚れ検査

検査項目
THD Pin, Wave or Selectiveはんだづけ、SMD

基板下面検査専用 3D AOI

レーザーラインビーム スキャン方式

同一分野最速の検査速度

Flip工程無しで そのまま検査

THD Pin, Wave or Selectiveはんだ付け、SMD検査に特化

追加のCycle time無しに PCB反り、異物&汚れ検査

検査項目 THD Pin, Wave or Selectiveはんだづけ、SMD
