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半導体パッケージ専用
超精密3D AOI

超高速・高解像度
レーザースキャン

照度が高い表面にも
完璧対応

対象物の色、表面、材質に
影響なく検査

検査項目

SiP, Die attach, Underfill, Solder paste and Bump, Cu clip on die, IGBTなど

半導体パッケージ専用 超精密3D AOI

超高速・高解像度 レーザースキャン

照度が高い表面にも 完璧対応

対象物の色、表面、材質に 影響なく検査

検査項目
SiP, Die attach, Underfill, Solder paste and Bump, Cu clip on die, IGBTなど